应学院邀请，上海易微科技有限公司李金树经理来校交流德国最新推出的SEM微纳米操纵仪应用及扫描探针—透射电镜（SPM-TEM）原位力学—电学测量表征系统。主要介绍在SEM电镜及透射电镜高真空下两款新型的微纳操纵仪的工作原理及应用。
报告题目：SEM微纳米操纵仪应用及扫描探针-透射电镜（SPM-TEM）原位力学—电学测量表征系统
报告时间：2009年11月5日（星期四）下午2：30
报告地点：物理楼5004学术报告室
